BERTIN, MARCO

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BERTIN, MARCO

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Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI

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Degradation of AlGaN/GaN Schottky diodes on silicon: Role of defects at the AlGaN/GaN interface

2013 Meneghini, Matteo; Bertin, Marco; Stocco, Antonio; Gabriele dal, Santo; Denis, Marcon; Pawel E., Malinowski; Alessandro, Chini; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico

Electrical and Electroluminescence Characteristics of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors Operated in Sustainable Breakdown Conditions

2013 Meneghini, Matteo; Zanandrea, Alberto; Rampazzo, Fabiana; Stocco, Antonio; Bertin, Marco; Cibin, Giulia; Dionyz, Pogany; Zanoni, Enrico; Meneghesso, Gaudenzio

OFF-State Degradation of AlGaN/GaN Power HEMTs: Experimental Demonstration of Time-Dependent Drain-Source Breakdown

2014 Meneghini, Matteo; Cibin, Giulia; Bertin, Marco; G. A. M., Hurkx; P., Ivo; J., Sonsky; J. A., Croon; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico

Time-dependent degradation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors under reverse bias

2012 Meneghini, Matteo; Stocco, Antonio; Bertin, Marco; D., Marcon; A., Chini; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico

Titolo	Data di pubblicazione	Autori	Rivista	Serie	Titolo libro
Degradation of AlGaN/GaN Schottky diodes on silicon: Role of defects at the AlGaN/GaN interface	2013	MENEGHINI, MATTEOBERTIN, MARCOSTOCCO, ANTONIOGabriele dal SantoDenis MarconPawel E. MalinowskiAlessandro ChiniMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + -	APPLIED PHYSICS LETTERS	-	-
Electrical and Electroluminescence Characteristics of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors Operated in Sustainable Breakdown Conditions	2013	MENEGHINI, MATTEOZANANDREA, ALBERTORAMPAZZO, FABIANASTOCCO, ANTONIOBERTIN, MARCOCIBIN, GIULIADionyz PoganyZANONI, ENRICOMENEGHESSO, GAUDENZIO + -	JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. PART 1, REGULAR PAPERS & SHORT NOTES	-	-
OFF-State Degradation of AlGaN/GaN Power HEMTs: Experimental Demonstration of Time-Dependent Drain-Source Breakdown	2014	MENEGHINI, MATTEOCIBIN, GIULIABERTIN, MARCOG. A. M. HurkxP. IvoJ. SonskyJ. A. CroonMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + -	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES	-	-
Time-dependent degradation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors under reverse bias	2012	MENEGHINI, MATTEOSTOCCO, ANTONIOBERTIN, MARCOD. MarconA. ChiniMENEGHESSO, GAUDENZIOZANONI, ENRICO + -	APPLIED PHYSICS LETTERS	-	-