Optical Degradation of 845 nm VCSELs With Different Oxide Apertures for Silicon Photonics

Zenari M.;Buffolo M.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2026
2026
IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS
WOS:001821868900001
2-s2.0-105042003041
W7164192747
01.01 - Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3609063
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
  • OpenAlex ND
social impact