Vth stability and gate leakage current trade-off in p-GaN gate power HEMTs during on- and off-state stress

Davide Favero;Carlo De Santi;Arianna Nardo;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2024
2024
Proceedings of the GaN Marathon 2024
GaN Marathon 2024
04.01 - Contributo in atti di convegno
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