Threshold Voltage Instability in SiC MOSFETs: Analysis and Modeling

M. Meneghini;A. Marcuzzi;C. De Santi;G. Meneghesso;E. Zanoni
2023
2023
Proceedings of ICSCRM 2023 (International Conference on Silicon Carbide and Related Materials)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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