Origin and Recovery of Negative Vth Shift on 4H-SiC MOS Capacitors: an Analysis Based on Inverse Laplace Transform and Temperature-Dependent Measurements
Alberto Marcuzzi;Carlo De Santi;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni;Matteo Meneghini
2023
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.