Improving the Reliability of InAs Quantum-Dot Laser Diodes for Silicon Photonics: the Role of Trapping Layers and Misfit-Dislocation Density

Buffolo M.;Zenari M.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2023
2023
Proceedings of SPIE Photonics West 2023 conference
SPIE Photonics West 2023
2-s2.0-85160711728
9781510659858
9781510659865
04.01 - Contributo in atti di convegno
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