GaN RF HEMT Reliability: Impact of Device Processing on I-V Curve Stability and Current Collapse

Chiocchetta F.;De Santi C.;Rampazzo F.;Gerosa A.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2022
2022
Proceedings of 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
WOS:000922926400086
2-s2.0-85130738849
978-1-6654-7950-9
04.01 - Contributo in atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3457033
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 2
  • OpenAlex ND
social impact