Degradation mechanisms of InAs quantum dot 1.3μm laser diodes epitaxially grown on silicon

Buffolo M.;Samparisi F.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2019
2019
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Novel In-Plane Semiconductor Lasers XVIII 2019
WOS:000473069200014
2-s2.0-85065662351
9781510625204
9781510625211
04.01 - Contributo in atti di convegno
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