Physical origin of the optical degradation of InAs quantum dot lasers

Buffolo M.;Samparisi F.;De Santi C.;Meneghesso G.;Zanoni E.;Meneghini M.
2019
2019
IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
WOS:000466036300001
2-s2.0-85064930611
01.01 - Articolo in rivista
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