Study of the stability of GaN-HEMTs with p-type Gate under forward Gate Bias

M. Ruzzarin;M. Meneghini;A. Barbato;PADOVAN, VALERIA;G. Meneghesso;E. Zanoni
2018
2018
Proceedings of the GaN Marathon 2.0
GaN Marathon 2.0
978-88-6787-916-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3296927
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact