Coupled experimental/simulation analysis as a tool for probing trap-related and high-electric-field phenomena in GaN HEMTs

C. De Santi;G. Meneghesso;M. Meneghini;I. Rossetto;E. Zanoni
2017

2017
Proceedings of the 2017 International Integrated Reliability Workshop (IIRW 2017)
2017 International Integrated Reliability Workshop (IIRW 2017)
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