Defect-generation and diffusion in (In)AlGaN-based UV-B LEDs submitted to constant current stress

Monti, D.;Meneghini, M.;De Santi, C.;DA RUOS, SILVIA;Meneghesso, G.;Zanoni, E.;
2018
2018
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Light-Emitting Diodes: Materials, Devices, and Applications for Solid State Lighting XXII 2018
WOS:000452797000005
2-s2.0-85047836736
9781510615939
04.01 - Contributo in atti di convegno
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