Degradation of vertical GaN FETs under gate and drain stress

Ruzzarin, M.;Meneghini, M.;De Santi, C.;Meneghesso, G.;Zanoni, E.;
2018

2018
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2018
9781538654798
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