Field and hot electron-induced degradation in GaN-based power MIS-HEMTs

Tajalli, Alaleh
;
Meneghini, Matteo;Rossetto, Isabella;Zanoni, Enrico;Meneghesso, Gaudenzio
2017

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3249218
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 7
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 5
  • OpenAlex ND
social impact