GaN HEMTs with p-GaN gate: Field-And time-dependent degradation

MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;ROSSETTO, ISABELLA;CANATO, ELEONORA;DE SANTI, CARLO;TRIVELLIN, NICOLA;ZANONI, ENRICO
2017
2017
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Gallium Nitride Materials and Devices XII
WOS:000403051200011
2-s2.0-85017000291
9781510606494
04.01 - Contributo in atti di convegno
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