Field- and time-dependent degradation of GaN HEMTs

ZANONI, ENRICO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;ROSSETTO, ISABELLA;DE SANTI, CARLO
2016

2016
proc. of the 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2016,
27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2016,
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