Reliability and trapping issues in GaN based MIS HEMTs
MENEGHESSO, GAUDENZIO;ROSSETTO, ISABELLA;DE SANTI, CARLO;MENEGHINI, MATTEO;ZANONI, ENRICO
2016
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.