On the investigation of ESD Failure mechanisms in AlGaN/GaN RF HEMTs

ROSSETTO, ISABELLA;MENEGHINI, MATTEO;BARBATO, MARCO;RAMPAZZO, FABIANA;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO
2015

2015
Proc. GE 2015 Annual Meeting
GE 2015 Annual Meeting
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