Deep Levels Characterization by Means of Drain Current Transient in AlGaN/GaN HEMT Devices

BISI, DAVIDE;STOCCO, ANTONIO;RAMPAZZO, FABIANA;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO;
2013
2013
37th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOCSDICE 2013)
37th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOCSDICE 2013)
9783000414350
04.01 - Contributo in atti di convegno
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