BAGATIN, MARTA
BAGATIN, MARTA
Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione - DEI
Mostra
records
Risultati 1 - 4 di 4 (tempo di esecuzione: 0.008 secondi).
Assessing SRAM sensitivity to ionizing radiation through a low-energy accelerator
2006 Bagatin, M.; Gerardin, S.; Rech, P.; Cester, Andrea; Paccagnella, A.
Electrical modifications induced by heavy-ion strikes on minimum-size MOSFETs
2006 Gerardin, S.; Bagatin, M.; Cester, Andrea; Paccagnella, A.; Kaczer, B.
Radiation Effects in NAND Flash Memories
2010 Bagatin, Marta; Cellere, Giorgio; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro
Radiation Effects on Electronic Devices
2011 Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Rivista | Serie | Titolo libro |
---|---|---|---|---|---|
Assessing SRAM sensitivity to ionizing radiation through a low-energy accelerator | 2006 | M. BagatinCESTER, ANDREAA. Paccagnella + | - | - | Laboratori Nazionali di Legnaro – Annual Report 2006 |
Electrical modifications induced by heavy-ion strikes on minimum-size MOSFETs | 2006 | M. BagatinCESTER, ANDREAA. Paccagnella + | - | - | LNL Annual Report 2006 |
Radiation Effects in NAND Flash Memories | 2010 | BAGATIN, MARTACELLERE, GIORGIOGERARDIN, SIMONEPACCAGNELLA, ALESSANDRO | - | - | Inside NAND Flash Memories |
Radiation Effects on Electronic Devices | 2011 | BAGATIN, MARTAGERARDIN, SIMONEPACCAGNELLA, ALESSANDRO | - | - | Nano-semiconductors, Devices & Technology |