Ring-Gate Reliability of p-GaN gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors

M. Ruzzarin;C. De Santi;M. Meneghini;G. Meneghesso
2018
2018
Proceedings of the 2018 International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2018)
2018 International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2018)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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