Observation of ID-VD Kink in N-Polar GaN MIS-HEMTs at Cryogenic Temperatures

Carlo De Santi;Matteo Meneghini;Gaudenzio Meneghesso;Enrico Zanoni
2020
2020
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
WOS:000519704300009
2-s2.0-85080956608
01.01 - Articolo in rivista
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