Range Evaluation of Threshold Voltage Instabilities of GaN-on-Si HEMTs with p-GaN Gate

Canato E.;Masin F.;Borga M.;Zanoni E.;Meneghini M.;Meneghesso G.;
2019
2019
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2019
WOS:000474762500113
2-s2.0-85066733422
978-1-5386-9504-3
04.01 - Contributo in atti di convegno
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