Electrically- and Optically-driven Degradation Processes in InGaN-based Photodetectors

C. De Santi;M. Meneghini;A. Caria;N. Renso;E. Zanoni;G. Meneghesso
2018
2018
Proceedings of the GaN Marathon 2.0
GaN Marathon 2.0
978-88-6787-916-8
04.01 - Contributo in atti di convegno
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