GaN-based lateral and vertical devices: physical mechanisms limiting stability and reliability

G. Meneghesso
;M. Meneghini;C. De Santi;E. Zanoni
2019
2019
Proceedings of the 3rd Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM 2019)
3rd Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM 2019)
2-s2.0-85067829438
04.01 - Contributo in atti di convegno
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