Degradation of InGaN-based optoelectronic devices under electrical and optical stress

C. De Santi;M. Meneghini;A. Caria;N. Renso;E. Zanoni;G. Meneghesso
2018
2018
Proceedings of the 50th Annual Meeting of the Associazione Società Italiana di Elettronica (SIE 2018)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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