Degradation of InGaN-based optoelectronic devices under electrical and optical stress

C. De Santi;M. Meneghini;A. Caria;N. Renso;E. Zanoni;G. Meneghesso
2018
2018
Proceedings of the 50th Annual Meeting of the Associazione Società Italiana di Elettronica (SIE 2018)
50th Annual Meeting of the Associazione Società Italiana di Elettronica (SIE 2018)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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