Positive and negative threshold voltage instabilities in GaN-based transistors
Meneghesso, G.;De Santi, C.;Ruzzarin, M.;Zanoni, E.
2018
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.