Normally-off HEMTs with p-GaN Gate: Stability and Lifetime Extrapolation

MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;ROSSETTO, ISABELLA;ZANONI, ENRICO
2016
2016
proc. of the International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2016)
International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN 2016)
04.01 - Contributo in atti di convegno
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