Investigation of the impact of hot electrons and high drain bias on the dynamic Ron increase in GaN-based MIS-HEMTs grown on silicon

MENEGHINI, MATTEO;BISI, DAVIDE;MENEGHESSO, GAUDENZIO;ZANONI, ENRICO
2014
2014
Proc of International Workshop on Nitride Semiconductors IWN-2014
International Workshop on Nitride Semiconductors IWN-2014
04.02 - Abstract in atti di convegno
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