Total Ionizing Dose effects on a 28 nm Hi-K metal-gate CMOS technology up to 1 Grad
MATTIAZZO, SERENA;BAGATIN, MARTA;BISELLO, DARIO;GERARDIN, SIMONE;PACCAGNELLA, ALESSANDRO;PANTANO, DEVIS;
2017
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
