Dielectric-Related Bias-Induced Threshold Voltage Instability in GaN based power HEMTs

MENEGHESSO, GAUDENZIO;MENEGHINI, MATTEO;ZANONI, ENRICO
2016

2016
Proc. of the WoDIM 2016, 19th Workshop on Dielectrics in Microelectronics
WoDIM 2016, 19th Workshop on Dielectrics in Microelectronics
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