Reliability of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors:a literature survey

ZANONI, ENRICO;MENEGHINI, MATTEO;MENEGHESSO, GAUDENZIO
2013

2013
YIR - 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2013
2013 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS 2013
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