Parasitic Effects in GaN HEMTs and Related Characterization Methods

MENEGHESSO, GAUDENZIO;TAZZOLI, AUGUSTO;MENEGHINI, MATTEO;ZANONI, ENRICO
2009

2009
Invited Workshop "Advances in Gallium Nitride High Electron Mobility Transistors: Technology and Reliability", by U. Mishra (UCSB) and E. Zanoni (Univ. of Padova); within the European Microwave Week, EuMW 2009
9782874870125
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