The NIO1 negative ion source: Investigation and operation experience

Cavenago, M.; Serianni, G.; Baltador, C.; Barbisan, M.; Pimazzoni, A.; Poggi, C.; Veltri, P.; Antoni, V.; Armelao, L.; Baseggio, L.; Cervaro, V.; De Muri, M.; Franchin, L.; Jain, P.; Laterza, B.; Maniero, M.; Martini, D.; Minarello, A.; Pasqualotto, R.; Rancan, M.; Ravarotto, D.; Recchia, M.; Sartori, E.; Sattin, Maurizio; Stivanello, Flavia Loreta; Ugoletti, M.; Variale, V.; Zucchetti, S.

doi:10.1063/1.5083747

The NIO1 negative ion source: Investigation and operation experience

Cavenago, M.;Serianni, G.;Baltador, C.;Barbisan, M.;Pimazzoni, A.;Poggi, C.;Veltri, P.;Antoni, V.;Armelao, L.;Baseggio, L.;Cervaro, V.;De Muri, M.;Franchin, L.;Jain, P.;Laterza, B.;Maniero, M.;Martini, D.;Minarello, A.;Pasqualotto, R.;Rancan, M.;Ravarotto, D.;Recchia, M.;Sartori, E.;SATTIN, MAURIZIO;Stivanello, Flavia Loreta;Ugoletti, M.;Variale, V.;Zucchetti, S.

2018

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2018
			
	Titolo del Libro
	
				AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 2052
			
	Rivista su cui è pubblicata l'opera
	
				AIP CONFERENCE PROCEEDINGS
			
	Titolo convegno
	
				The 6th International symposium on Negative Ions, Beams and Sources
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1063/1.5083747
			
	Codice WOS
	
				WOS:000468334600029
			
	Codice Scopus
	
				2-s2.0-85059610186
			
	Codice OpenAlex
	
				W2908279403
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 - Contributo in atti di convegno

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