Influence of LDD Spacers and H+Transport on the Total-Ionizing-Dose Response of 65-nm MOSFETs Irradiated to Ultrahigh Doses

Gerardin S.;Paccagnella A.;Bonaldo S.
2018
2018
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
WOS:000422920800023
2-s2.0-85031793644
01.01 - Articolo in rivista
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