Muon-induced soft errors in 16-nm NAND flash memories

BAGATIN, MARTA;GERARDIN, SIMONE;PACCAGNELLA, ALESSANDRO;
2016
2016
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2016 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2016
WOS:000387121900049
2-s2.0-84990950511
9781467391368
9781467391368
04.01 - Contributo in atti di convegno
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