Fully Automated Scan-to-BIM Via Point Cloud Instance Segmentation

Campagnolo, D.; Camuffo, E.; Michieli, U.; Borin, P.; Milani, S.; Giordano, A.

doi:10.1109/ICIP49359.2023.10222064

Fully Automated Scan-to-BIM Via Point Cloud Instance Segmentation

Campagnolo, D.;Camuffo, E.;Michieli, U.;Borin, P.;Milani, S.;Giordano, A.

2023

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Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2023
			
	Titolo del Libro
	
				Proc. of 2023 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP 2023)
			
	Collana/serie monografica
	
				PROCEEDINGS - INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING
			
	Titolo convegno
	
				IEEE International Conference on Image Processing (ICIP 2023)
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1109/ICIP49359.2023.10222064
			
	Codice WOS
	
				WOS:001106821000056
			
	Codice Scopus
	
				2-s2.0-85180790089
			
	Codice ISBN
	
				978-1-7281-9835-4
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 - Contributo in atti di convegno

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