Defects and reliability in GaN electronics and optoelectronics: challenges and perspectives

M. Meneghini
2022

2022
Proceedings of the 2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
2022 International Workshop on Nitride Semiconductors
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3462200
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact