Effects of thermal and electrical stress on DH4T-based organic thin-film-transistors with PMMA gate dielectrics

WRACHIEN, NICOLA;LAGO, NICOLO';RIZZO, ANTONIO;MENEGHESSO, GAUDENZIO;CESTER, ANDREA
2015
2015
MICROELECTRONICS RELIABILITY
WOS:000364256400099
2-s2.0-84943451804
01.01 - Articolo in rivista
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