Channel Hot Carrier Stress on Irradiated 130-nm NMOSFETs: Impact of Bias Conditions During X-ray Exposure

SILVESTRI, MARCO;GERARDIN, SIMONE;PACCAGNELLA, ALESSANDRO;
2007
2007
Proceedings of the 9th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) 2007
9th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) 2007
WOS:000280831500007
2-s2.0-70449591994
04.01 - Contributo in atti di convegno
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