Modeling the gate current 1/f noise and its application to advanced CMOS devices

MAGNONE P;
2008
2008
International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology
9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology (ICSICT 2008)
WOS:000265971000107
2-s2.0-60649121812
978-1-4244-2185-5
04.01 - Contributo in atti di convegno
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