Analysis of electrical and thermal stress effects on PCBM:P3HT solar cells by photocurrent and impedance spectroscopy modeling

TORTO, LORENZO;RIZZO, ANTONIO;CESTER, ANDREA;WRACHIEN, NICOLA;
2017
2017
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2017 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017
WOS:000416068500022
2-s2.0-85024382916
9781509066407
04.01 - Contributo in atti di convegno
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