Open circuit voltage decay as a tool to assess the reliability of organic solar cells: P3HT:PCBM vs. HBG1:PCBM

TORTO, LORENZO;CESTER, ANDREA;RIZZO, ANTONIO;WRACHIEN, NICOLA;
2017
2017
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2017 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2017
2-s2.0-85024365920
9781509066407
04.01 - Contributo in atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11577/3240298
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 3
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact