Understanding the degradation sources under ON-state stress in AlGaN/GaN-on-Si SBD: Investigation of the anode-cathode spacing length dependence

MAGNONE, PAOLO;
2016
2016
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
2016 International Reliability Physics Symposium, IRPS 2016
WOS:000387121900027
2-s2.0-84990960852
9781467391368
04.01 - Contributo in atti di convegno
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