Atomic Force Acoustic Microscopy for surface mechanical characterization

BALCON, MANUEL;MARINELLO, FRANCESCO;SCHIAVUTA, PIERO;PATELLI, ALESSANDRO;CARMIGNATO, SIMONE;SAVIO, ENRICO
2010

2010
Proceedings of the 10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
9780955308284
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