Olympic Gauge: A New Reference Standard for Testing X-ray Microtomography Systems

CARMIGNATO, SIMONE;PIEROBON, ANNA;MARINELLO, FRANCESCO;SAVIO, ENRICO
2010
2010
Proceedings of the 10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
10th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
2-s2.0-84911402187
9780955308284
04.01 - Contributo in atti di convegno
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