Self-learning signature analysis for non-volatile memory testing

Olivo, P.; Dalpasso, Marcello

doi:10.1109/TEST.1996.556975

Self-learning signature analysis for non-volatile memory testing

OLIVO P.;DALPASSO, MARCELLO

1996

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				1996
			
	Titolo del Libro
	
				IEEE International Test Conference 1996
			
	Titolo convegno
	
				IEEE International Test Conference 1996
			
	Codice DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1109/TEST.1996.556975
			
	Codice WOS
	
				WOS:A1996BG68G00037
			
	Codice Scopus
	
				2-s2.0-0030385619
			
	Codice ISBN
	
				0780335414
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 - Contributo in atti di convegno