Analysis of dynamic effects of resistive bridging faults in CMOS and BiCMOS digital ICs

DALPASSO, MARCELLO;
1993
1993
IEEE International Test Conference 1993
IEEE International Test Conference 1993
WOS:A1993BZ61X00113
2-s2.0-0027879676
0780314301
04.01 - Contributo in atti di convegno
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