An evolutionary approach to the design of on-chip pseudorandom test pattern generators

DALPASSO, MARCELLO
2002
2002
IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2002
IEEE/ACM Design Automation and Test in Europe Conference 2002
WOS:000176953300209
2-s2.0-77952095915
0769514715
04.01 - Contributo in atti di convegno
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