CESCHIA, MARCO
CESCHIA, MARCO
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A MODEL OF RADIATION INDUCED LEAKAGE CURRENT (RILC) IN ULTRA-THIN OXIDES
1999 Larcher, L.; Paccagnella, Alessandro; Ceschia, M.; Ghidini, G.
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFETs
1996 Paccagnella, Alessandro; Ceschia, Marco; G., Verzellesi; G. F., Dalla Betta; P., Bellutti; P. G., Fuochi; G., Soncini
Low-Field Current on Thin Oxides After Constant Current or Irradiation Stresses
1998 Ceschia, Marco; Paccagnella, Alessandro; Cester, Andrea; A., Scarpa; A., Candelori; G., Ghidini
Noise Characteristics of Radiation-Induced Soft Breakdown Current in Ultrathin oxides
2001 Cester, Andrea; L., Bandiera; Ceschia, Marco; G., Ghidini; Paccagnella, Alessandro